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基于平板的高分辨率平板数字成像
发布时间:2020-06-11    
基于平板的高分辨率平板数字成像
产品简介:针对高速X射线动态检测和X射线拍片而设计的数字成像系统。在千兆网卡接口标准的基础上,可在用户工作台上进行实时显示成像,成像面积大、性能稳定,是各种钢铁、轻金属材料的零部件及焊缝进行无损检测的理想设备。
技术特点:数字平板探测器不仅将其所接收到的穿透被检测目标的X射线转换为可见光,而且把可见光数字化,在控制单元的远程控制下,通过千兆网卡传入计算机进行实时的图像显示、图像处理、存盘等工作。一次成像面积最大为250㎜×200㎜,成像图像尺寸最大为1920×1536像素。
技术指标:采集速度:1fps/s--30fps/s
像元面积:总面积 19.5(h)cm*24.4(v)cm
有效面积 19.3(h)cm*24.2(v)cm
像元矩阵:总数 1.536(h)*1.920(v)
有效 1.516(h)*1.900(v)
像元尺寸:127μm2
能量范围:普通 40-160kv;中能 40-225kv
空间分辨率:实时图像显示可达到20LP/mm,静态图像可达到35LP/mm
数据输出/系统接口:千兆网卡
应用范围:各种需进行无损检测的部件及设备,适用于电力、航空、机械制造等行业。现应用于丹东无损检测设备有限公司,用户使用情况良好。
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